计测技术

计测技术 ›› 2025, Vol. 45 ›› Issue (6) : 29 - 40. DOI: 10.11823/j.issn.1674-5795.2025.06.02

精密测量新技术

面向工业视觉的小尺寸光斑高速亚像素定位方法

韩奕璇 ¹^,² ,
高豆豆 ¹^,² ,
董登峰 ¹^,²^,¹ ,
王博 ¹ ,
邱启帆 ¹^,³

作者信息 +

¹中国科学院微电子研究所，北京100029

²中国科学院大学，北京100049

³南京航空航天大学自动化学院，江苏南京211106

董登峰

韩奕璇（2000－），女，硕士研究生，2023年获电子科技大学学士学位，主要从事视觉信息处理、光学精密测量领域研究。

董登峰(1981－)，男，研究员，博士生导师，主要从事光学精密测量、AI识别方法、智能跟踪控制、视觉伺服控制系统等领域研究。2012年于北京航空航天大学获得博士学位。任全国量和单位标委会委员、中国光学工程学会光电测试测量技术及应用专委会先进制造光电测量组组长、中国光学工程学会团体标委会委员、中国机电一体化协会产品数字化设计与制造分会理事、中国计量测试学会计量仪器专委会委员、全国产品几何技术规范标准化技术委员会委员等职务。已累计发表学术论文40余篇，申请发明专利40余项。主持国家重点研发计划、高质量发展专项、高端装备制造专项、自然基金、中科院先导专项等多个项目 / 任务。曾获2020年度中国机械工业科技奖及技术发明特等奖、2021年度中国计量测试学会科技进步奖等奖项。